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利用光的衍射現象，即大顆粒產生的衍射角小，小顆粒產生的衍射角大，通過計算檢測器上收集到的不同
衍射圖形的光強分布，來給出顆粒的粒度大小和粒度分布。
新帕泰克公司激光粒度儀的光路采用平行光路設計
根據在多元檢測器上得到的衍射光強的分布，通過顆粒大小和光強分布之間的相關公式來計算得到顆粒的
粒度分布。
在實際測量中，不同形貌的顆粒所產生的衍射圖形是不一樣的。檢測器上所得到的不同光強分布的衍射圖
形，已包含了真實顆粒的大小和其形狀的信息：
平行光照射在一個球形顆粒上會產生以下幾種物理現象：衍射、吸收、折射、反射。
樣品輸出
樣品輸入
傅立葉鏡頭
多元檢測器
測試區域
激光擴束器
激光光源
θ
α
β
refraction
reflection
diffraction
particle
absorption
Fraunhofer
(no parameters)
laser light
Mie theory
x
(n-ik necessary)
顆粒大小和光強分布之間的關系：
嚴格的光散射電磁場理論利用光的電磁波性質，應用麥克斯韋方程對散射顆粒形成的邊界條件求解，可以
得到各個光散射物理量。但是嚴格解法受到許多限制，對于一些復雜問題，如相關散射、復散射、非球形
顆粒等，
至今尚難以給出的結果。
Mie
理論是對處于均勻介質中的各向均勻同性的單個介質球在單色平
行光照射下的麥克斯韋方程邊界條件的嚴格數學解，它是物理光學的一個重要的分支。
（摘自《顆粒粒徑的
光學測量技術及應用》－王乃寧等編著，原子能出版社）
。
新帕泰克公司的激光粒度儀符合標準
ISO13320
，
在進行數據處理時，
根據被測物料所滿足的條件，
可選擇
Fraunhofer
衍射理論或
Mie
散射理論進行處理。
德國新帕泰克激光粒度儀采用模塊化設計，根據對不同物料測試的需要，將不同的測試系統（如光學系統）
和不同的分散系統相結合，得到適合測試不同物料的粒度儀。
一臺完整的通常由光學系統、分散系統、數據處理系統和進樣系統組成。
光學系統
：
HELOS/BF
系列
：
適用量程范圍
0.1-875
微米
off-/at-line
HELOS/KF
系列
：
適用量程范圍
0.1-8750
微米
off-/at-line
HELOS/VARIO
系列
：
適用量程范圍
0.5-8750
微米
off-/at-line
MYTOS
系列
：
適用量程范圍
0.25-3500
微米
on-/in-line
分散系統
：
干法分散系統
：
RODOS
、
RODOS/M
、
GRADIS
、
MEGARADIS
干濕二合一分散系統
：
OASIS
濕法分散系統
：
QUIXEL
、
SUCELL
、
CUVETTE
氣霧劑分散系統
：
SPRAYER
、
INHALER
數據處理系統：
數據收集和處理軟件：
WINDOX
、
QT
、
MIE
、
REMO&PARA
、
DV
、
QX-BASE
、
QX-PRO
進樣系統：
干法進樣系統
：
VIBRI
、
ASPRIROS
、
TWISTER
、
ROPRON
、
INCELL
濕法進樣系統
：
SAFIR
應用領域
:
粉末冶金、硬質合金、稀土、磁性材料、石油、化工、制藥、陶瓷、磨料、水泥、電力、電池、
能源、航空、軍工、涂料、油墨、顏料、造紙、地質、水文、非金屬礦、礦物加工、食品、化
地址：中國上海閔行區漕河涇浦江高科技園
郵箱：marketing@alpharmaca.com
傳真：
